沼津高専 電子制御工学科
同期基板試験報告書
MIRS9905-ELEC-0025
改訂記録
版数
作成日
作成者
承認
改訂内容
A01
2000.11.17
千徳
八窪
初版
目的 本ドキュメントは同期基板の試験結果を報告するものである
試験方法
同期基板試験仕様書
参照
試験結果
部品配置のチェック
用意するもの
基板、はんだごて、はんだ、はんだ吸い取り器
検査
実装図を見て、部品の配置をチェックする。ICの向きに注意。
・問題無い
同期基板の実装図
導通チェック
用意するもの
基板、テスター、はんだごて、はんだ、はんだ吸い取り器
導通チェック
回路図を見て、各部品につながるべき線がつながっているかをテスターで調べる。なるべくはんだにテスターをあてず、部品の足にあてるようにすること。また、つながっていないことを調べる非導通チェックも行う。ICのVccとGNDに注意。
・問題無い
動作試験
用意するもの
タッチセンサ、タッチセンサボード、ロータリーエンコーダボード、テスター、電源(+5V)
同期基板にタッチセンサボードとロータリーエンコーダボードを同期回路に接続する。またVccとGND間に5Vを供給する。
タッチセンサを押下し、CN_1(TS to Douki)にそれに対応する信号が送られてくることを確認する。
・問題無い
続いてタッチセンサを押下し、CN_2(Douki to RE)にそれに対応する信号が送られてくることを確認する。
・TS_1(1ピン)とTS_2(3ピン)には正しく信号が送られてくるが、TS_3(5ピン)にはずっとLレベルのままである。
→ロータリーエンコーダボード側のコネクタが正しいインターフェイスになっていなかったため、コネクタ部分を直した。
・問題無い
関連文書
同期基板試験仕様書