沼津高専 電子制御工学科
同期基板試験報告書
MIRS9905-ELEC-0025
改訂記録
版数 作成日 作成者 承認 改訂内容
A01 2000.11.17 千徳 八窪 初版

  1. 目的
  2.  本ドキュメントは同期基板の試験結果を報告するものである

  3. 試験方法
  4. 同期基板試験仕様書参照

  5. 試験結果
    1. 部品配置のチェック
      • 用意するもの
        基板、はんだごて、はんだ、はんだ吸い取り器
      • 検査
        実装図を見て、部品の配置をチェックする。ICの向きに注意。
          ・問題無い


        同期基板の実装図

    2. 導通チェック
      • 用意するもの
        基板、テスター、はんだごて、はんだ、はんだ吸い取り器
      • 導通チェック
        回路図を見て、各部品につながるべき線がつながっているかをテスターで調べる。なるべくはんだにテスターをあてず、部品の足にあてるようにすること。また、つながっていないことを調べる非導通チェックも行う。ICのVccとGNDに注意。
          ・問題無い

    3. 動作試験
      • 用意するもの
        タッチセンサ、タッチセンサボード、ロータリーエンコーダボード、テスター、電源(+5V)
        1. 同期基板にタッチセンサボードとロータリーエンコーダボードを同期回路に接続する。またVccとGND間に5Vを供給する。
          タッチセンサを押下し、CN_1(TS to Douki)にそれに対応する信号が送られてくることを確認する。

            ・問題無い

        2. 続いてタッチセンサを押下し、CN_2(Douki to RE)にそれに対応する信号が送られてくることを確認する。

            ・TS_1(1ピン)とTS_2(3ピン)には正しく信号が送られてくるが、TS_3(5ピン)にはずっとLレベルのままである。

          →ロータリーエンコーダボード側のコネクタが正しいインターフェイスになっていなかったため、コネクタ部分を直した。

            ・問題無い


関連文書
  • 同期基板試験仕様書