沼津高専 電子制御工学科
同期基板動作試験仕様書
MIRS9905-DSGN-0023
改訂記録
版数
作成日
作成者
承認
改訂内容
A01
2000.11.13
千徳
八窪
初版
本仕様書はMIRS9905同期回路基板の動作試験について記述する。
部品配置のチェック
準備
基板・はんだごて・はんだ・はんだ吸い取り器
検査
実装図を見て部品の配置をチェックする。その際、ICのピン番号に注意する。
修正
間違っている部品の配置を修正する。
図1.同期回路実装図
導通チェック
準備
基板・テスター・はんだごて・はんだ・はんだ吸い取り器
導通チェック
回路図を見て、各部品の導通をテスターで調べる。はんだにテスターをあてず、部品の足に直接あてるようにする。
非導通チェック
パターン間の非導通試験は全てについて行うことが望ましいが、困難なので少なくとも電源とグランドが短絡していないことを確認するのみに留める。
修正
導通すべきところが導通してなかったら修正する。
電源とグランドが短絡していた場合、絶対に電源を供給してはならない。(電源を破壊する恐れがある)また、どこで短絡しているかを調べるのは非常に困難である。目視とテスターにより丹念に調べていくより方法がない。
動作試験
準備
基板・直流電源・マイクロスイッチ
動作試験
タッチセンサ基板とロータリーエンコーダを同期回路基板に接続する。
TMP試験を行い、システムクロックと信号の同期が取れているかを確認する。
故障個所
番号
品名
ドキュメント番号/商品名
E/C
数量
単位
備考
1
MIRS9905 同期基板回路図
MIRS9905-ELEC-00??
C
1
部