沼津高専 電子制御工学科
MIRSATLM フラッシュディスク - バックプレーン試験仕様書 MIRSATLM-ELEC-1624
改訂記録
版数	作成日	作成者	承認	改訂内容
A01	2001.1.23	品川　彰	長澤　正氏	初版
目的 この仕様書は、ATLMIRSのフラッシュディスクとバックプレーン間の接続ケーブルの試験手順を記載したものである。 試験手順 部品、必要器具 フラッシュディスク - バックプレーンケーブル、フラッシュディスク、バックプレーン、テスター、MIRSATLM フラッシュディスク - バックプレーン製造仕様書 手順 （フラッシュディスク - バックプレーン間対応関係表、ケーブル接続図、コネクタ外形図はMIRSATLM フラッシュディスク - バックプレーン製造仕様書参照） テスターを使用して、隣合ったピンが非導通であることを調べる。 テスターを使用して対応しているピンが導通であることを調べる。（コネクタのピン.Noは各コネクタの外形図を参照）

関連文書

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