沼津高専 電子制御工学科
タッチセンサ基板動作試験仕様書
MIRS9905-DSGN-0007
改訂記録
版数
作成日
作成者
承認
改訂内容
A01
2000.6.30
千徳
八窪
初版
本仕様書はMIRS9905タッチセンサ基板の動作試験について記述する。
部品配置のチェック
準備
基板・はんだごて・はんだ・はんだ吸い取り器
検査
実装図を見て部品の配置をチェックする。その際、ICのピン番号に注意する。
修正
間違っている部品の配置を修正する。
図1.タッチセンサボード実装図
導通チェック
準備
基板・テスター・はんだごて・はんだ・はんだ吸い取り器
導通チェック
回路図を見て、各部品の導通をテスターで調べる。はんだにテスターをあてず、部品の足に直接あてるようにする。
非導通チェック
パターン間の非導通試験は全てについて行うことが望ましいが、困難なので少なくとも電源とグランドが短絡していないことを確認するのみに留める。
修正
導通すべきところが導通してなかったら修正する。
電源とグランドが短絡していた場合、絶対に電源を供給してはならない。(電源を破壊する恐れがある)また、どこで短絡しているかを調べるのは非常に困難である。目視とテスターにより丹念に調べていくより方法がない。
動作試験
準備
基板・直流電源・オシロスコープ・マイクロスイッチ
動作試験
回路に電源を、μPD5555CのOutputにオシロスコープを接続し、約1KHz(1ms)の矩形波が出力されることを確認する。
精度はあまり問題にしなくてよいが、矩形波が乱れていたらコンデンサと抵抗を変更し、満足な結果が得られるまで繰り返す。
TS_CN1(タッチセンサ側)の1番ピン及び3番ピンにマイクロスイッチを接続し、S-R Latch(74LS279)の出力ピンにオシロスコープを接続する。マイクロスイッチを押下し入力波形のチャタリングが除去されている事を確認する。
マイクロスイッチの接続ピンとオシロスコープの接続ピンを逐次変更し7つの出力ピン全てについて行う。
続いてオシロスコープを同期回路(74LS154)の出力ピンに接続し、マイクロスイッチを押下し、μPD5555Cの出力する矩形波に同期していることを確認する。
マイクロスイッチの接続ピンとオシロスコープの接続ピンを逐次変更し7つの出力ピン全てについて行う。
続いてオシロスコープをANDgate(74LS08)の出力ピンに接続し、マイクロスイッチを押下し、最低1ms以上のパルス幅を持つワンショットパルスが発生することを確認する。
マイクロスイッチの接続ピンとオシロスコープの接続ピンを逐次変更し10本の出力ピン全てについて行う。
最後にTS_CN1に7つのマクロスイッチを接続し、GAL16V8の出力ピンにオシロスコープを接続する。エンコーダの真理値表を見比べながら任意のマクロスイッチの押下に対するGALの出力が正しいことを確認する。
3本の出力ピンそれぞれに対して行う。
故障個所
番号
品名
ドキュメント番号/商品名
E/C
数量
単位
備考
1
MIRS9905 タッチセンサ基板回路図
MIRS9905-ELEC-00??
C
1
部
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